Kompromisslose Leistung
Mit Funktionen für Zeit-, Frequenz-, Protokoll- und Logikanalyse bieten die R&S®RTE Oszilloskope eine vollständige Multi-Domain-Testlösung. Ob bei der Entwicklung von Embedded Designs, der Analyse von Leistungselektronik oder der allgemeinen Fehlersuche, die R&S®RTE Oszilloskope lösen Herausforderungen im Messalltag schnell, präzise und einfach.
- Bis zu 16 bit vertikale Auflösung200
- Msample tiefer Speicher zur Analyse langer Sequenzen
- Signalfehler schnell finden dank 1 Million Messkurven/s
- Für die Bedienung per Touchscreen optimiert
